【應(yīng)用分享】ITECH在半導(dǎo)體Power IC領(lǐng)域的測試應(yīng)用
來源:艾德克斯
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作者:sztaiqin
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發(fā)布時間: 2020-12-16
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半導(dǎo)體,指常溫下導(dǎo)電性能介于導(dǎo)體與絕緣體之間的材料,半導(dǎo)體產(chǎn)品主要分為四大類,分別包含集成電路(IC),光電子器件,分立器件和傳感器, ITECH針對封裝后的IC的測試,半導(dǎo)體激光器,光電照明器件的測試,二極管,三極管,場效應(yīng)管,可控硅,IGBT,保險絲,繼電器等分立器件以及傳感器的測試都有配套的解決方案,如IC老化測試,供電測試,分立器件的導(dǎo)通測試等,尤其是半導(dǎo)體激光器的測試,依托于IT-M3100和IT6000C的CC/CV優(yōu)先權(quán)設(shè)定以及環(huán)路速度可調(diào)的功能,可有效抑制開機(jī)過沖,保護(hù)半導(dǎo)體DUT。
隨著手機(jī)、平板、智能穿戴產(chǎn)品的普及,對于集成協(xié)議的移動電源SoC的需求也在增長。ITECH更推出IT8500G+直流電子負(fù)載,內(nèi)置多達(dá)8 種豐富的快充協(xié)議,滿足對于快充適配器,移動電源、快充充電寶等產(chǎn)品的測試。采樣帶寬可達(dá)300kHz,配合內(nèi)置的紋波測試功能,可協(xié)助工程師輕松完成DUT 電壓和電流紋波的量測,同時也具備自動測試、電池放電測試、動態(tài)測試等多種豐富的功能,滿足大部分開關(guān)電源、電池等產(chǎn)品研發(fā)階段,生產(chǎn)老化階段的性能測試需求。